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球差電鏡測(cè)試

球差電鏡測(cè)試

價(jià) 格:3000

儀器安裝地址:北京檢測(cè)中心

檢測(cè)能力:形貌分析、結(jié)構(gòu)分析、成分分析

檢測(cè)周期:10 工作日

項(xiàng)目好評(píng)率:99.89%

平均完成周期:4 工作日

服務(wù)次數(shù):1451 次

   

球差校正透射電子顯微鏡

JEM ARM  200F   日本JEOL公司生產(chǎn)
詳情頁(yè)圖片.png        

技術(shù)參數(shù)

Technical Parameters
放大倍數(shù):50-200萬(wàn)倍(透射模式)/200-15000萬(wàn)倍(STEM模式)                                  加速電壓:200KV            
透射像分辨率:0.11 nm                                                                                                        STEM像分辨率:0.078 nm                  
樣品臺(tái):全對(duì)中側(cè)插式樣品臺(tái)                                                                                               最大傾轉(zhuǎn)角:±25°                

應(yīng)用范圍

Applied Range

       JEM ARM 200F球差電鏡是一款原子級(jí)分析型透射電鏡,擁有世界領(lǐng)先的STEM-HAADF像分辨率(78pm),無(wú)論是200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下,均能實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率的觀察與分析。同時(shí)還配備了自動(dòng)像差校正系統(tǒng),可以自動(dòng)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的像差校正。新STEM成像技術(shù)(e-ABF法)可以更加簡(jiǎn)便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰(襯度)圖像。 ARM200F在保證亞納米分辨率0.078nm的同時(shí),能量分辨率提高到了0.3eV,極大增強(qiáng)了原子級(jí)觀察和原子級(jí)分析能力。            

利用它可以進(jìn)行

形貌分析                
通過(guò)形貌分析可獲得樣品的形貌、粒徑、分散性等相關(guān)信息,同時(shí)還可通過(guò)明場(chǎng)像、暗場(chǎng)像對(duì)樣品的質(zhì)厚襯度像、衍襯像進(jìn)行進(jìn)一步的表征。                
結(jié)構(gòu)分析                
觀察研究材料結(jié)構(gòu)并進(jìn)行原子尺度的微分析,如:原子像,選區(qū)電子衍射,會(huì)聚束電子衍射等。                
成分分析                
可在原子尺度對(duì)樣品進(jìn)行成分分析,可選擇性的對(duì)樣品進(jìn)行能譜點(diǎn)測(cè)、能譜線掃、能譜面分布分析,獲得樣品中的元素在一個(gè)點(diǎn)、一條線、一個(gè)面上的分布情況。                        

        

送樣要求

Sample Requirement
粉末樣品:樣品量≥2mg(不接收強(qiáng)磁性樣品)。
       
液體樣品:樣品量≥0.5ml(不接收強(qiáng)磁性樣品)。        
塊體樣品:樣品尺寸3mm,若小于該尺寸請(qǐng)聯(lián)系在線客服具體確認(rèn)。        
本網(wǎng)頁(yè)的所有數(shù)據(jù)版權(quán)所有,禁止復(fù)制、粘貼、使用、傳播,否則將追究法律責(zé)任!


服務(wù)方信息

專屬客服

項(xiàng)目評(píng)價(jià)

檢測(cè)質(zhì)量:
5分
服務(wù)態(tài)度:
5分
檢測(cè)時(shí)效:
5分
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