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SIMS測(cè)試（北京）

價(jià) 格：￥1500

儀器安裝地址：北京檢測(cè)中心

檢測(cè)能力：檢測(cè)周期正常，數(shù)據(jù)質(zhì)量正常

檢測(cè)周期：5 工作日

項(xiàng)目好評(píng)率：100.00%

平均完成周期：4 工作日

服務(wù)次數(shù)：621 次

項(xiàng)目詳情檢測(cè)案例送樣要求用戶(hù)評(píng)價(jià)(11) 項(xiàng)目問(wèn)答(0)

項(xiàng)目介紹

飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜 IONTOF 5（德國(guó)）

技術(shù)參數(shù)

20kV C60 脈沖濺射離子槍
銫濺射離子槍
氬氣/氧氣濺射離子槍
GCIB團(tuán)簇離子槍
樣品傳送管

應(yīng)用范圍

飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜技術(shù)（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，TOF-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)，一束高能初級(jí)離子轟擊樣品表面激發(fā)出原子和分子碎片，一小部分激發(fā)出的粒子以離子的狀態(tài)離開(kāi)表面，被質(zhì)量分析器探測(cè)出來(lái)，具有極高分辨率的測(cè)量技術(shù)。對(duì)于不同的材料，檢測(cè)的含量不同，對(duì)于無(wú)機(jī)材料, 原子離子百分含量> 10%，對(duì)于有機(jī)材料，原子和分子離子碎片百分含量可以從0.001% 到 1%，僅從表面2個(gè)分子層激發(fā)出的粒子可以以離子態(tài)離開(kāi)表面。

實(shí)際應(yīng)用