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超薄切片制樣(北京)

超薄切片制樣(北京)

價(jià) 格:500

儀器安裝地址:北京檢測(cè)中心

檢測(cè)能力:透射電鏡樣品制備

檢測(cè)周期:12 工作日

項(xiàng)目好評(píng)率:100.00%

平均完成周期:8 工作日

服務(wù)次數(shù):646 次


超薄切片機(jī)

Leica EM UC7   德國(guó)Leica公司生產(chǎn)

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技術(shù)參數(shù)

樣品厚度控制:1nm ~15μm                                                             切片創(chuàng)面范圍:0.2-14mm
工作溫度范圍:-15℃~ -185℃                                                          刀臺(tái)移動(dòng)范圍:N-S方向10mm,W-E方向25mm

應(yīng)用范圍



Leica EM UC7超薄切片機(jī)秉承徠卡超薄切片機(jī)一貫的高精度。堅(jiān)固耐用的品質(zhì),再加上多項(xiàng)創(chuàng)新的設(shè)計(jì),功能卓越,使用戶能夠輕易舒適地完成常溫/冷凍的超薄切片工作。UC7可以進(jìn)行半薄和超薄切片,為光學(xué)顯微鏡,透射電子顯微鏡,掃描電子顯微鏡和原子力顯微鏡提供完美的切片??捎糜谏锝M織切片后看內(nèi)部組織的超微結(jié)構(gòu)、高分子材料冷凍切片后看內(nèi)部結(jié)構(gòu)及參雜物、微米級(jí)顆粒切片后看顆粒內(nèi)部結(jié)構(gòu)。FIB加工除了透射制樣之外,還可以進(jìn)行樣品的截面制樣和拍攝,原子探針制備,納米CT樣品制備,原位透射式樣制備,電路修補(bǔ),離子濺射,圖形加工等一系列微納加工。

拍攝目的

1、球差透射(看原子結(jié)構(gòu)等);

2、普通透射(TEM,HRTEM,EDS,看位錯(cuò)等);

3、TKD(觀察納米級(jí)晶粒取向的方法,F(xiàn)IB切完的透射樣品可以同時(shí)來做TKD);

 

 

 

 

 

 

 

 

服務(wù)方信息

專屬客服

項(xiàng)目評(píng)價(jià)

檢測(cè)質(zhì)量:
5分
服務(wù)態(tài)度:
5分
檢測(cè)時(shí)效:
5分
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