透射電鏡TEM可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu)，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。

　　應(yīng)用范圍

　　主要檢測對象為金屬、礦物、半導(dǎo)體、超導(dǎo)體、無機(jī)化合物等固體納米材料。、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、物理學(xué)、地質(zhì)學(xué)、金屬、半導(dǎo)體材料等領(lǐng)域的科研，是研究各種材料的超顯微結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系所不可缺少的大型精密儀器。

　　tem測試的注意事項(xiàng)：

　　1、樣品高度不能超過樣品臺高度。測試過程中，尤其是向上移動樣品時(shí)，要緩慢，防止堅(jiān)硬的試樣撞擊上方的探測器和極靴，損壞設(shè)備。

　　2、推拉送樣桿時(shí)用力必須沿送樣桿軸線方向，以防損壞送樣桿。

　　3、做完電鏡關(guān)閉高壓，等30秒以上，待燈絲冷卻后再放氣為宜，用以保護(hù)電子槍。

　　4、鏡筒部分沒有放氣時(shí)，不允許拔掉物鏡光闌桿。

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