Tecnai G2 F30 S-TWIN 透射電子顯微鏡是一個真正多功能、多用戶環(huán)境的300kV場發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HAADF、CCD等附件，能采集TEM明場、暗場像和高分辨像，能進(jìn)行選區(qū)電子衍射和匯聚束衍射，能進(jìn)行EDX能譜分析和高分辨STEM原子序數(shù)像的分析，STEM結(jié)合EDX點、線、面掃描的可以進(jìn)行微區(qū)能譜分析。該儀器還配備了相關(guān)的制樣設(shè)備，包括Gantan691離子減薄儀、磁力雙噴電解減薄器和凹坑儀等，可以進(jìn)行金屬、生物以及高分子材料等樣品的透射電子顯微鏡的制樣工作。該儀器可廣泛應(yīng)用于高分子材料、陶瓷、納米材料、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、物理學(xué)、地質(zhì)學(xué)、金屬、半導(dǎo)體材料等領(lǐng)域的科研，是研究各種材料的超顯微結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系所不可缺少的大型精密儀器。

　　利用它可以進(jìn)行

　　形貌分析

　　通過形貌分析可獲得樣品的形貌、粒徑、分散性等相關(guān)信息，同時還可通過明場像、暗場像對樣品的質(zhì)厚襯度像、衍襯像進(jìn)行進(jìn)一步的表征。

　　結(jié)構(gòu)分析

　　觀察研究材料結(jié)構(gòu)并進(jìn)行納米尺度的微分析，如：高分辨晶格條紋像，選區(qū)電子衍射，會聚束電子衍射等。

　　成分分析

　　可對小到幾納米的微區(qū)或晶粒的進(jìn)行成分分析，可選擇性的對樣品進(jìn)行能譜點測、能譜線掃、能譜面分布分析，獲得樣品中的元素在一個點、一條線、一個面上的分布情況。