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XRD測試(北京)

XRD測試(北京)

價 格:60

儀器安裝地址:北京檢測中心

檢測能力:衍射測試,掠射測試,高溫原位測試,電池原位測試

檢測周期:5 工作日

項目好評率:100.00%

平均完成周期:2 工作日

服務(wù)次數(shù):60493 次

 

項目介紹及特點

X射線衍射,簡稱XRD,是一種利用X射線與晶體之間的衍射作用來確定晶體結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的表征手段。當(dāng)一束單色X射線照射到晶體時,晶體中的原子會在X射線的作用下被迫做周期性的運動,以原子為單位對外發(fā)射次生波,該波的頻率與入射X射線一致,這個過程是X射線的散射。由于晶體中的原子在空間上呈周期性的規(guī)律排布,這些散射球面波之間存在著固定的位相關(guān)系,會在空間產(chǎn)生干涉,導(dǎo)致在某些散射方向的球面波相互加強,而在某些方向上相互抵消,從而出現(xiàn)衍射現(xiàn)象。因此,晶體中的X射線衍射實質(zhì)上就是大量原子散射波在空間上相互干涉的結(jié)果。衍射線在空間分布的方位和強度,與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān),每種晶體所產(chǎn)生的衍射花樣都反映出該晶體內(nèi)部的原子分配規(guī)律,這就是X射線衍射的基本原理。

一個衍射花樣的特征,由兩部分組成:①衍射線在空間的分布規(guī)律,由晶胞大小、形狀和位向決定;②衍射線束的強度,取決于原子的種類和它們在晶胞中的位置。通過分析衍射花樣在空間出現(xiàn)的位置和強度,就可以在X射線衍射和晶體結(jié)構(gòu)之間建立定性和定量關(guān)系。

布拉格方程是衍射分析中最重要的基礎(chǔ)公式,它揭示了衍射與晶體結(jié)構(gòu)的內(nèi)在關(guān)系。如圖示,當(dāng)X射線照射到晶體時,照射到相鄰兩晶面的光程差是2dsinθ。當(dāng)光程差等于X射線波長的n倍時,相鄰原子面散射波干涉加強,即干涉加強條件為:2dsinθ=nλ。 2dsinθ=nλ(n=1,2,3…),其中,λ是X射線的波長,d是晶體晶面間距,θ是入射X射線與相應(yīng)晶面的夾角。通過布拉格方程,可以用已知波長的X射線求解晶面間距d,從而獲得晶體結(jié)構(gòu)信息。

謝樂公式(Scherrer公式)是XRD測晶粒尺寸的理論基礎(chǔ),描述了晶粒尺寸與衍射峰半峰寬之間的關(guān)系。晶粒越小,XRD衍射線的峰就越彌散寬化。

Scherrer公式D=Kλ/βcosθ,其中D是垂直于晶面方向的晶粒尺寸;K是Scherrer常數(shù),一般取0.87-1;λ是X射線波長;β是衍射峰半高寬度,單位是弧度;θ是衍射角。該方法計算的是晶粒的平均尺寸。 

XRD是目前研究晶體結(jié)構(gòu)最有力的方法,通過樣品的X射線衍射圖與已知晶態(tài)物質(zhì)的X射線衍射圖對比分析可以完成樣品物相組成和結(jié)構(gòu)的定性鑒定;通過對樣品衍射強度數(shù)據(jù)的分析計算,可以完成樣品物相組成的定量分析。

 

XRD測試特點:

1. XRD是一種非破壞性的分析方法,是研究晶體結(jié)構(gòu)的有效手段。

2. XRD測的是材料的體相結(jié)構(gòu)信息,X射線可以穿透固體,從而驗證其內(nèi)部結(jié)構(gòu)。

3. XRD主要適用于無機物,對于有機物應(yīng)用較少。

4. XRD的檢測限與被測物質(zhì)的種類和結(jié)晶度有很大的關(guān)系,沒有明確的檢出限。如果要進行物相定量,一般建議降低掃描速率,延長掃描時間,得到的譜圖效果會更好。

 

相關(guān)資料

服務(wù)方信息

專屬客服

項目評價

檢測質(zhì)量:
5分
服務(wù)態(tài)度:
5分
檢測時效:
5分
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