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離子減薄制樣(深圳)

離子減薄制樣(深圳)

價(jià) 格:500

儀器安裝地址:深圳檢測(cè)中心

檢測(cè)能力:透射電鏡塊體樣品制備

檢測(cè)周期:5 工作日

項(xiàng)目好評(píng)率:100.00%

平均完成周期:4 工作日

服務(wù)次數(shù):821 次

   

離子減薄儀

Leica EM RES102   美國(guó)萊卡公司生產(chǎn)
離子減薄案例1.png        

技術(shù)參數(shù)

Technical Parameters           
離子束能量: 0.8-10 KeV可調(diào)                                                                                             離子束流:4.5mA                 
減薄角度:0°-90°                                                                                                                 最大樣品尺寸:直徑25mm,高度12mm             

應(yīng)用范圍

Applied Range

       Leica EM RES102 多功能離子減薄儀是萊卡公司生產(chǎn)的一款集TEM、SEM和LM樣品制備功能于一體的全自動(dòng)桌面式設(shè)備。通過離子槍激發(fā)獲得離子束,以一定入射角度對(duì)樣品進(jìn)行轟擊,以去除樣品表面原子,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的離子束加工。該設(shè)備具有高能量離子研磨功能,也能用于低能量及溫和的離子束研磨,拋光區(qū)域可達(dá)25 mm,研磨過程參數(shù)全電腦控制。該設(shè)備廣泛用于無(wú)機(jī)薄片樣品的大面積減薄以有利于TEM觀察,也可對(duì)樣品表面污染層或涂層進(jìn)行清潔,或用于樣品表面的離子束刻蝕,便于SEM掃描電子顯微鏡觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息。            

利用它可以進(jìn)行

應(yīng)用范圍                
可用于制備金屬、陶瓷、薄膜、半導(dǎo)體材料等各種塊體材料的透射電鏡試樣(包括截面樣品)。             

檢測(cè)案例

Test Case

(一)離子減薄案例  

努力添加中........                  

送樣要求

Sample Requirement
塊體樣品:樣品直徑3mm,厚度小于100um,若大于該尺寸將收取相應(yīng)的機(jī)械拋光或切割費(fèi)用。
               
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服務(wù)方信息

專屬客服

項(xiàng)目評(píng)價(jià)

檢測(cè)質(zhì)量:
5分
服務(wù)態(tài)度:
5分
檢測(cè)時(shí)效:
5分
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